以SiC為惰性陶瓷散堆填料,Al為活性陶瓷散堆填料,聚硅氧烷
以熱重一差熱(TGDTA >、流動氮氣氣氛中不同裂解溫度下產物的X射線衍射(XRD)和元素線掃描< ELEM)方法研究了含活性陶瓷散堆填料A1,惰性陶瓷散堆填料SiC的PCS/Al/SiC/N,體系的裂解一反應機理。研究表明,PCS的裂解從400℃左右開始,800℃時基本完全。體系由于裂解產生揮發性小分子而失重。當體系中含有PCS特別是SiC微粉時,A1的氮化溫度會大大下降,從1030℃降至790℃左右,同時提高了A1的轉化率,SiC起到類似催化劑的作用。當裂解溫度升高至600℃時,Al微粉開始熔化,與SiC或PCS的中間裂解產物[PCS〕作用,形成中間體。隨著溫度的升高,中間體與保護氣氛發生氮化反應,形成ALN和SiC。當裂解溫度上升至1000℃時,反應基本完成。www.ingspirations.com
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